By Dr. -Ing. Wilfried Daehn (auth.), Dr. -Ing. Wilfried Daehn (eds.)
Die Akzeptanz mikroelektronischer Systeml?sungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen h?ngt in starkem Ma?e von der Fehlerfreiheit und Zuverl?ssigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gew?hrleisten. Nur durch konsequentes Testen aller gefertigten Baugruppen und ICs k?nnen die um den Faktor four hundred sch?rferen Anforderungen an die Fehlerfreiheit erf?llt werden. Die Komplexit?t heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen platforms in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen ?berblick ?ber die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formulierung der Testaufgabe zieht sich dabei von Beginn an als roter Faden durch alle Kapitel des Buches, beginnend bei der Fehlermodellierung ?ber die Testmusterberechnung, Fehlersimulation und Testbarkeitsanalyse hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.
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1) FUr die Funktion g(X) =](X) erhillt man dann: = j(Xl' ... ,0, ... , ... ,1, ... ,xn) = J(xp ... ,0, ... ,xn)E91 E9 J(xp ... ,1, ... , ... ,0, ... ' ... ,1, ... 2) Die Boolesche Differenz der inversen Schaltfunktion g(X) ist damit gleich der Booleschen Differenz der nicht invertierten Schaltfunktion J(X) . 2 Boolesche Differenz konjunktiv verkniipfter Schaltfunktionen Betrachtet werden ein Schaltkreis C mit der Schaltfunktion J(X) = g(t). h(X) gemiiB Abb. 1 X, x. C1 g(x) t--- - - & I-- f(x) = g(x) .
Ten Pfades, um den Fehler fortzuschalten. Berecbne aus den Anforderungen zu 2 und 3 die Signalwerte an den Schaltungseingiingen. Wenn Schritt 4 erfolgreich durchgefillrrt werden konnten, fahre fort mit dem nlichsten Fehler. e einen anderen Pfad und fahre fort mit 3. Falls es keinen weiteren Pfad mehr gibt, ist keine Testmiisterberechnung moglich. 4. 5. 6. Als Beispiel diene der in Abb. 2 dargestellte Halbaddierer mit Fehler A -s-a-1. ,----- A B Abb. 2: \ V h-H & G\ V s c Halbaddierer Der Fehler kann auf drei Pfaden zu einem Schaltungsausgang propagiert werden.
X}=f:(X,h(X}} x. } Fehlerfreier Schaltkreis C mitmebreren Ausglingen und fehlerhafter Schaltkreis C .. 11) V (h(i')ffia) . 13) ,wird auch als Steuerbarkeitsbedingung bezeichnet. 1st dieser Tell erfiillt, dann ist gewahrleistet, daB am Fehlerort im Fehlerfall und im fehlerfreien Fall unterschiedliche Signale Yorliegen. 14) wird als Beobachtbarkeitsbedingung bezeichnet. Der Term gewllhrleistet, daB der Unterschied der Signalwerte fUr h im fehlerfreien und fehlerbehafteten Fall an mindestens einen Ausgang ft(i') beobachtbar ist.